6332A/B 光回波損耗測試儀

6332A/B光回波損耗測試儀內置2×2光開關，可快速實現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內置激光器功率檢測模塊，實現光插入損耗準確測試。產品廣泛應用于光纖通信科研、教學和生產領域。

6332A/B 光回波損耗測試儀

6332A/B光回波損耗測試儀內置2×2光開關，可快速實現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內置激光器功率檢測模塊，實現光插入損耗準確測試。產品廣泛應用于光纖通信科研、教學和生產領域。

6332A/B 光回波損耗測試儀

6332A/B光回波損耗測試儀內置2×2光開關，可快速實現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內置激光器功率檢測模塊，實現光插入損耗準確測試。產品廣泛應用于光纖通信科研、教學和生產領域。